激光测距传感器检测方案与流程周长Z即区域边界的长度。假设每个点是面积为1的一个小方块，对图像边缘做出标记，累计所标记的像素总数，即为周长。标记方法如下：

①定义一个二维数组h(i, j)=1，其中(i, j)是值为 1的点的坐标。

②对整幅图像从上到下扫描，比较相邻两点的值，若值为1和0，则令h1(i, j)=1,记录满足条件的像素数目Z1；再从左到右扫描，比较相邻两点的值，若值为1和0，则令h2(i, j)=1，记录像素数目Z2。

③计算Z=Z1+Z2，Z为区域边界的周长。

圆形度O主要用来区分圆形或椭圆形缺陷(气泡等）及细长状缺陷（裂纹或异物掺杂等），可用式（14）求解：

激光测距传感器检测为满足用户上位机数据接口要求，在线光谱分析系统应集成数据处理算法功能，且保证运算快速，结果准确。为此，在线光谱分析系统里搭载了高性能处理器，并且为了进一步提高速度，运算处理器直接与光谱仪模块集成。从而能够在CCD探测器进行下一周期积分时并行计算反射率数据。在前后两个计算周期之间，没有等待的延迟时间。在完成计算后，光谱仪将颜色数据提交给服务器，交由服务器判断是否需要触发停机信号。由于本系统的规模仅需要至多两层交换机就能连接，因此网络的延迟时间将小于1毫秒。而经过测算，进行50万次(相当于6000米长的薄膜)100个通道的组合逻辑判断在普通的计算机上每次平均耗时仅0.02毫秒，单次最大耗时为2毫秒。按此测算，完成单次测量和判断所需时间为12毫秒，即瑕疵点在经过探头3.6厘米后系统会给出报警或停机信号。

激光测距传感器LED芯片测试机

由于制作工艺存在尚未解决的技术困难，所以对于生产过程中同一块外延片不同位置的光电特性是有细微差别的，呈现出不均匀性。在完成电极和引脚的过程中也会存在一定的瑕疵。这些缺陷会导致在LED产品的发光强度和颜色，在生产过程中如果残次芯片继续进行加工，会导致生产过程中不必要的浪费。所以LED芯片测试机是LED生产过程中不可或缺的一个环节。

微型光纤光谱仪主要将辐射光谱、发光强度、色坐标x，y和峰值波长作为测量指标。

一般检测设备只能对电气特性不合格进行筛选，微型光纤光谱仪被引入到LED芯片检测后，发光检测方面问题得到了很好地解决。由于微型光纤光谱仪测量每颗晶粒的时间是5-6ms，快于一般测试机探针机械移动时间，因此测量速度提到提高。

激光测距传感器检测方案继而使用积分球和光谱仪测量其辐射光谱;通过计算光度学和色度学参数，并联合电学指标，一起进行数据分析;随后将数据转换为指令，传输到指令模块，将不同LED进行分选。基于微型光纤光谱仪的第一台LED分光机，可以完成分选五千颗/小时，使得LED检测从抽检进入到全检的时代。随着微型光纤光谱仪性能的提升以及与配套LED分光机兼容度提高，现在的LED分光机检测已经可以完成五万五千颗/小时，甚至更高。

污染气体排放监测

微型光纤光谱仪在污染气体排放监测指标是不同气体浓度，包括氮氧化物、二氧化硫、臭氧、丙酮和氨气等。不同气体所表现出的吸收光谱具有特异性，但也有一定相同性，大部分气体的吸收峰都位于紫外区域，所以采用在紫外区域的激发光或在紫外区域有响应的光谱仪对气体进行浓度的测试。

激光测距传感器检测方案在印刷机上集成一个反射光谱的测量系统，对印刷品的校准色块进行反射测量，并通过相应算法将光谱数据换算为行业内能够接受的颜色指标。由于印刷中的纸张具有快速移动的特性，所以在运用中往往会采用积分球或环形的反射镜对光源进行匀化，从而减小检测样品在印刷过程中的振动与倾斜。光谱仪所得光谱数据反馈到印刷设备对颜色的品控进行调整。

光谱仪自带可编程逻辑电路，可将复杂的逻辑关系写入微型光纤光谱仪中，可以使光谱仪直接与印刷设备油料控制器对接，产生在线的闭环系统。

光谱检测

光谱检测是科学工作中应用最广泛的方法，可对各类物质进行元素的定性分析，由于光谱分析检测技术和光谱仪器具备特有的高灵敏度、高分辨率、高速度、无损伤、无污染、抗干扰、可遥测等优点。